中科光析半导体实验室是半导体检测领域的创新领导者，致力于研发先进的检测技术与设备
中科光析半导体实验室成立于2015年，由一群来自全球顶尖半导体实验室的科学家和工程师创立。我们开发了革命性的检测技术，能够实现传统技术无法达到的检测精度。
实验室拥有多项专利技术，服务全球超过50个国家和地区的客户，包括全球多家半导体制造商
采用量子传感技术，实现原子级缺陷检测
深度学习算法实现智能缺陷分类与预测
我们提供全方位的量子级半导体检测服务，覆盖从研发到量产的各个环节
TTL集成电路输出处于高阻态时，其输出级晶体管的基极驱动被切断，使得输出端与内部电路在直流上呈现高阻抗特性。此时，输出电平由外部电路或上拉/下拉电阻决定，但关键参...
射频脉冲包络作为雷达系统的核心时域特征，其精确表征与检测直接决定了雷达的探测性能、分辨能力与抗干扰性。在搜救、导航、气象等诸多领域，对雷达发射脉冲的包络参...
低频传导抗扰度测试是评估电气电子设备在受到低频传导干扰时维持正常工作性能的关键手段。这类干扰主要指0Hz至150kHz频段内，通过电源线或信号线传入的骚扰电压或...
中科光析半导体实验室的创新技术为半导体行业带来革命性的检测解决方案
采用量子纠缠态检测技术，灵敏度比传统技术高1000倍
专利的并行量子检测架构，速度比传统方法快50倍
深度学习算法实现99.9%的缺陷分类准确率
基于量子云计算的数据分析平台，处理能力提升指数级
我们最受欢迎的半导体检测服务，满足您的各种检测需求
电源检测：保障设备稳定运行的关键环节在现代电子设备高度普及的背景下，稳定、纯净的电力供应是确保设备可靠运行和较长使用寿命的基石。电源检测作为一种系统性的评估手段，通过
车载芯片作为现代汽车电子系统的核心部件，其性能与可靠性直接关系到车辆的安全性和功能性。本文将全面介绍车载芯片检测的技术体系、检测方法和行业发展趋势。一、车载芯片检
随着半导体技术的飞速发展，芯片复杂度呈指数级增长，失效分析（Failure Analysis, FA）已成为确保产品可靠性的关键环节。本文系统性地介绍芯片失效分析的核心流程、技术手段及行业
